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光学测量的条纹分析--理论算法与应用

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  • 包装:平装
  • 出版社:西安交大
  • ISBN:9787560592923
  • 作者:(墨)塞尔文//(西)基罗加//(墨)帕迪利亚|责编:...
  • 页数:249
  • 出版日期:2020-10-01
  • 印刷日期:2020-10-01
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:411千字